A tecnologia de testes n、o destrutivos desempenha um papel importante na inspeç、o de qualidade da peça devido às suas características n、o destrutivas, eficientes e rápidas. Ele pode detectar rapidamente defeitos na superfície das peças sem danificá-las. No entanto, os testes n、o destrutivos n、o s、o capazes de detectar defeitos ocultos dentro da peça, como poros e furos de contraç、o.

Para compensar essa deficiência, surgiram os "ensaios metalográficos" como método de ensaio destrutivo. Este método pode detectar com precis、o defeitos de nível micrométrico dentro da peça fundida cortando seções específicas da peça fundida para uma análise precisa. Embora o teste metalográfico seja de precis、o impecável, seu custo é relativamente alto e o processo de teste é demorado. Mais importante ainda, a peça testada n、o pode ser restaurada após o teste e só pode ser usada uma vez, o que sem dúvida aumenta os custos de produç、o e o consumo de recursos.

Ent、o, existe um método de teste rápido, preciso e de custo relativamente baixo? A resposta é: testes n、o destrutivos de raios X.